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IC芯片设计中的静态时序分析实践
¥98.6(7.3折)定价:¥135.0本书深度介绍了芯片设计中用静态时序分析进行时序验证的基本知识和应用方法,涉及了包括互连线模型、时序计算和串扰等影在内的响纳米级电路设计的时序的重要问题,并详细解释了在不同工艺、环境、互连工艺角和片上变化(OCV)下进行时序检查的方法。详细介绍了层次化块(Block)、全芯片及特殊IO接口的时序验证,并提供了SDC、SDF及SPEF格式的完整介绍。 本书适合从事芯片设计和ASIC时序验证领域的专业人士,以及逻辑和芯片设计专业的
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混响室理论及其在电磁兼容和天线测试中的应用
¥70.8(6折)定价:¥118.0本书全面系统地介绍了混响室的基本理论以及在电磁兼容和天线测试领域中的应用,主要内容包括混响室基本理论、机械搅拌器的设计与性能评价、混响室在电磁兼容测试中应用、单端口天线和多端口天线性能测试、以及混响室的进一步应用和发展等。本书有助于广大科技工作者、工程师了解混响室的基本概念,在电磁兼容和天线测试领域中研究现状和发展趋势,也可作为高等院校电磁场与微波技术,电磁兼容等专业本科生和研究生的教材或参考书目...