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IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测
¥43.1(7.3折)定价:¥59.0《IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测》通过详细分析IGBT芯片与封装疲劳失效机理,在研究失效特征量随疲劳老化时间变化规律的基础之上,通过将理论分析与解析描述相结合,建立了IGBT相关电气特征量的健康状态监测方法,对处于不同寿命阶段的IGBT器件健康状态进行有效评估。《IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测》可作为从事电力电子技术理论与工程的技术人员的参考书,也可作为电力电子与电力传动专业的本科生?硕士和博士研究生,以及从事电力电子器件