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几何公差那些事儿 版权信息
- ISBN：9787111692553
- 条形码：9787111692553 ; 978-7-111-69255-3
- 装帧：一般胶版纸
- 册数：暂无
- 重量：暂无
- 所属分类：>
几何公差那些事儿 内容简介
本书采用了现行的国家标准和国际标准，通过通俗易懂的语言，以小说的形式展开。在公差的工程应用背景下，本书系统全面地介绍了GB、ISO和ASME三种标准中相关的几何公差知识。全书共分6章：第1章阐述了几何公差和线性尺寸公差的发展概况及区别，还介绍了快速查找索引图；第2章介绍了线性尺寸公差的37个主要知识点；第3章介绍了基准及其应用的27个主要知识点；第4章介绍了几何公差的相关40个主要知识点；第5章介绍了几何公差的修饰符号，共33个知识点；第6章从设计、工艺和质量三个维度介绍了公差应用思路和一些经验等。
几何公差那些事儿 目录
前言
第1章浅谈几何公差与线性尺寸公差1
11扬帆启航1
12两代公差比较1
121位置尺寸与位置度2
122几何公差替代线性尺寸公差的缘由3
123GB、 ISO系列标准与ASME Y145的区别5
124线性尺寸与几何尺寸的区别5
13线性尺寸的分类和应用6
131实体尺寸与位置尺寸7
132方向尺寸8
133形状尺寸9
14第三代几何公差的猜想9
15看懂公差标注9
151线性尺寸公差族谱10
152几何公差族谱10
153控制对象族谱10
154基准标注族谱10
思考题11
第2章线性尺寸公差12
21公差原则12
211独立原则13
212包容要求13
22尺寸公差基本标注及其前缀14
221控制对象数量15
222理想值TRUE15
223控制对象形状16
224公称尺寸16
225尺寸公差值标注方法17
226尺寸值范围标注17
23控制对象描述17
231公共被测尺寸要素CT17
232连续形体18
233自由状态18
234控制形体的一部分19
235毛刺、去除材料和过渡区域19
24选择测量点的方式和区域20
241两点尺寸20
242由球面定义的局部尺寸21
243任意横截面ACS21
244特定横截面SCS22
25测量点的拟合方式22
251*小二乘拟合准则22
252*大内切拟合准则22
253*小外接拟合准则23
26评价值选择（统计尺寸）24
261*大尺寸24
262中位尺寸25
263极值平均尺寸25
264*小尺寸25
265尺寸范围26
266平均尺寸26
267平均值AVG27
268过程统计尺寸27
27计算评价类尺寸27
271周长直径27
272面积直径28
273体积直径28
28沉孔类29
281沉头孔29
282锪平29
283埋头孔30
284通孔THRU30
285孔深31
286孔底圆角31
思考题31
第3章基准应用32
31三种常用基准34
311直接法34
312模拟法35
313目标法35
32确定基准36
321测量基准选择36
322基准系39
323标注基准思路40
33基准符号41
331线性尺寸的基准符号41
332几何公差的基准符号41
333几何公差框格下标注基准符号41
334坐标系与基准联合标注41
335基准限制自由度情况标注43
34基准标注与基准形体44
341投影线表达基准形体45
342尺寸线对齐方向标注45
343投影正面表达基准形体45
344投影背面表达基准形体45
345基准目标：选择部分表面45
346基准目标：线46
347基准目标：点46
348可移动的基准目标46
349联合基准46
35基准符号的修饰符号47
351螺纹小径LD47
352螺纹大径MD47
353螺纹中径PD47
354螺纹大径MAJOR DIA48
355螺纹小径MINOR DIA48
356成组出现相同基准相同被控形体INDIVIDUALLY48
357连续形体基准49
36理论正确值标注49
361理论正确尺寸49
362理论正确角度49
思考题49
第4章几何公差54
41几何公差内部逻辑54
411跳级测量原则54
412几何公差四大分类55
413四类公差的逻辑关系56
42形状公差59
421平面度59
422直线度60
423圆度60
424圆柱度61
425圆柱度是否可以控制圆度61
426圆柱度是否可以控制直线度62
427平面度是否可以控制直线度62
43方向公差63
431平行度63
432垂直度63
433倾斜度64
434深度理解方向公差64
44位置公差65
441位置度66
442同轴度66
443对称度67
444位置度代替对称度和同轴度67
445面轮廓度68
446线轮廓度69
45跳动公差70
451圆跳动70
452全跳动70
453轴向跳动和径向跳动71
46控制对象与指引线71
461选择形体某部分进行控制71
462表面要素72
463中心要素72
464联合要素UF72
465控制要素在投影正面73
466控制要素在投影背面73
467全周——指引线有1个圆圈73
468全表面——指引线有2个圆圈73
469公差带分布方向74
47几何公差框格基本标注74
471公差带形状与数值74
472渐变公差范围75
473给定测量长度75
474变动公差75
思考题76
第5章几何公差的修饰符号80
51几何公差值的修饰符号80
511*大实体要求82
512*小实体要求84
513延伸公差带85
514不对称公差带87
515动态公差带88
516贴切要素89
517自由状态89
518过程统计尺寸90
519零公差090
52用于GB和ISO几何公差值的修饰符号90
521偏置公差带UZ90
522可逆要求91
523独立公差带SZ92
524组合公差带CZ93
525线性偏置公差带OZ94
526*小二乘要素96
527*小区域要素96
528*小外接要素96
529*大内切拟合要素96
5210仅约束方向><97
53ASME标准对基准模拟体的要求98
531基准*大实体边界98
532基准*小实体边界101
533自由状态103
534旋转止动类零件基准模拟体103
535基准移动［1，0，0］106
54GB和ISO标准取点方式和基准拟合要素定义107
541任意纵截面［ALS］107
542任意横截面［ACS］108
543中径/节径［PD］108
544小径［LD］108
545大径［MD］108
546接触要素［CF］109
55几何公差框格周边的补充信息109
551区间符号←→109
552同时要求SIM REQT109
553分离要求SEP REQT110
554同时性要求SIM110
56公差带方向的补充定义111
561相交平面112
562定向平面112
563方向要素114
564组合平面115
思考题115
第6章公差应用思路119
61质量测量相关工作122
611量具的策划思路122
612功能检具的设计思路124
613量规设计125
614检测人员学习几何公差的思路126
62工艺相关工作129
621工艺人员学习几何公差的框架129
622工装夹具的学习思路129
63设计相关工作129
631尺寸链的学习思路129
632复合公差130
633相对位置和互为基准131
634实效边界(VC)概念与模块化设计概念133
64正确标注图样136
思考题138
参考答案141
附录150
附录A线性尺寸公差族谱150
附录B几何公差族谱151
附录C控制对象族谱152
附录D基准标注族谱153
附录E公差应用总结（一）154
附录F公差应用总结（二）155
附录G公差应用总结（三）155
附录HGB、ISO与ASME部分关键知识点对照156
第1章浅谈几何公差与线性尺寸公差1
11扬帆启航1
12两代公差比较1
121位置尺寸与位置度2
122几何公差替代线性尺寸公差的缘由3
123GB、 ISO系列标准与ASME Y145的区别5
124线性尺寸与几何尺寸的区别5
13线性尺寸的分类和应用6
131实体尺寸与位置尺寸7
132方向尺寸8
133形状尺寸9
14第三代几何公差的猜想9
15看懂公差标注9
151线性尺寸公差族谱10
152几何公差族谱10
153控制对象族谱10
154基准标注族谱10
思考题11
第2章线性尺寸公差12
21公差原则12
211独立原则13
212包容要求13
22尺寸公差基本标注及其前缀14
221控制对象数量15
222理想值TRUE15
223控制对象形状16
224公称尺寸16
225尺寸公差值标注方法17
226尺寸值范围标注17
23控制对象描述17
231公共被测尺寸要素CT17
232连续形体18
233自由状态18
234控制形体的一部分19
235毛刺、去除材料和过渡区域19
24选择测量点的方式和区域20
241两点尺寸20
242由球面定义的局部尺寸21
243任意横截面ACS21
244特定横截面SCS22
25测量点的拟合方式22
251*小二乘拟合准则22
252*大内切拟合准则22
253*小外接拟合准则23
26评价值选择（统计尺寸）24
261*大尺寸24
262中位尺寸25
263极值平均尺寸25
264*小尺寸25
265尺寸范围26
266平均尺寸26
267平均值AVG27
268过程统计尺寸27
27计算评价类尺寸27
271周长直径27
272面积直径28
273体积直径28
28沉孔类29
281沉头孔29
282锪平29
283埋头孔30
284通孔THRU30
285孔深31
286孔底圆角31
思考题31
第3章基准应用32
31三种常用基准34
311直接法34
312模拟法35
313目标法35
32确定基准36
321测量基准选择36
322基准系39
323标注基准思路40
33基准符号41
331线性尺寸的基准符号41
332几何公差的基准符号41
333几何公差框格下标注基准符号41
334坐标系与基准联合标注41
335基准限制自由度情况标注43
34基准标注与基准形体44
341投影线表达基准形体45
342尺寸线对齐方向标注45
343投影正面表达基准形体45
344投影背面表达基准形体45
345基准目标：选择部分表面45
346基准目标：线46
347基准目标：点46
348可移动的基准目标46
349联合基准46
35基准符号的修饰符号47
351螺纹小径LD47
352螺纹大径MD47
353螺纹中径PD47
354螺纹大径MAJOR DIA48
355螺纹小径MINOR DIA48
356成组出现相同基准相同被控形体INDIVIDUALLY48
357连续形体基准49
36理论正确值标注49
361理论正确尺寸49
362理论正确角度49
思考题49
第4章几何公差54
41几何公差内部逻辑54
411跳级测量原则54
412几何公差四大分类55
413四类公差的逻辑关系56
42形状公差59
421平面度59
422直线度60
423圆度60
424圆柱度61
425圆柱度是否可以控制圆度61
426圆柱度是否可以控制直线度62
427平面度是否可以控制直线度62
43方向公差63
431平行度63
432垂直度63
433倾斜度64
434深度理解方向公差64
44位置公差65
441位置度66
442同轴度66
443对称度67
444位置度代替对称度和同轴度67
445面轮廓度68
446线轮廓度69
45跳动公差70
451圆跳动70
452全跳动70
453轴向跳动和径向跳动71
46控制对象与指引线71
461选择形体某部分进行控制71
462表面要素72
463中心要素72
464联合要素UF72
465控制要素在投影正面73
466控制要素在投影背面73
467全周——指引线有1个圆圈73
468全表面——指引线有2个圆圈73
469公差带分布方向74
47几何公差框格基本标注74
471公差带形状与数值74
472渐变公差范围75
473给定测量长度75
474变动公差75
思考题76
第5章几何公差的修饰符号80
51几何公差值的修饰符号80
511*大实体要求82
512*小实体要求84
513延伸公差带85
514不对称公差带87
515动态公差带88
516贴切要素89
517自由状态89
518过程统计尺寸90
519零公差090
52用于GB和ISO几何公差值的修饰符号90
521偏置公差带UZ90
522可逆要求91
523独立公差带SZ92
524组合公差带CZ93
525线性偏置公差带OZ94
526*小二乘要素96
527*小区域要素96
528*小外接要素96
529*大内切拟合要素96
5210仅约束方向><97
53ASME标准对基准模拟体的要求98
531基准*大实体边界98
532基准*小实体边界101
533自由状态103
534旋转止动类零件基准模拟体103
535基准移动［1，0，0］106
54GB和ISO标准取点方式和基准拟合要素定义107
541任意纵截面［ALS］107
542任意横截面［ACS］108
543中径/节径［PD］108
544小径［LD］108
545大径［MD］108
546接触要素［CF］109
55几何公差框格周边的补充信息109
551区间符号←→109
552同时要求SIM REQT109
553分离要求SEP REQT110
554同时性要求SIM110
56公差带方向的补充定义111
561相交平面112
562定向平面112
563方向要素114
564组合平面115
思考题115
第6章公差应用思路119
61质量测量相关工作122
611量具的策划思路122
612功能检具的设计思路124
613量规设计125
614检测人员学习几何公差的思路126
62工艺相关工作129
621工艺人员学习几何公差的框架129
622工装夹具的学习思路129
63设计相关工作129
631尺寸链的学习思路129
632复合公差130
633相对位置和互为基准131
634实效边界(VC)概念与模块化设计概念133
64正确标注图样136
思考题138
参考答案141
附录150
附录A线性尺寸公差族谱150
附录B几何公差族谱151
附录C控制对象族谱152
附录D基准标注族谱153
附录E公差应用总结（一）154
附录F公差应用总结（二）155
附录G公差应用总结（三）155
附录HGB、ISO与ASME部分关键知识点对照156
展开全部
几何公差那些事儿 作者简介
张少，笔名：子谦。制造业工作13年，为企业节约成本数百万元，擅长解决公差应用难题。
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