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X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门 版权信息
- ISBN：9787516014561
- 条形码：9787516014561 ; 978-7-5160-1456-1
- 装帧：一般胶版纸
- 册数：暂无
- 重量：暂无
- 所属分类：>
X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门 本书特色
Rietveld法全谱拟合已成为X射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。本书共分为四章，侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验测试，并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例，包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。
X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门 内容简介
《X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门》一书具有很强的实用性，可以作为材料、化学以及地质等领域学习X射线多晶衍射Rietveld法结构精修和GSAS软件的研究人员的入门参考书，也可以作为本科生、研究生教学的实验教材
X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门 目录
第1章 Rietveld法结构精修1.1 Rietveld法结构精修发展概况1.2 Rietveld法基本原理1.3 参数修正顺序与结果判据1.3.1 参数修正的顺序1.3.2 精修的数值判据1.3.3 精修的图示判断1.4 精修过程出现的问题和对策1.5 Rietveld法结构精修的应用1.5.1 修正晶体结构1.5.2 相变研究和点阵常数测定1.5.3 物相定量分析1.5.4 晶粒尺寸和微应变测定
第2章 EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍2.1 GSAS软件简介2.2 EXPGUI-GSAS软件的安装2.3 EXPGUI-GSAS软件界面介绍2.3.1 菜单栏2.3.2 选项卡界面2.3.3 EXPGUI帮助内容
第3章 EXPGUI-GSAS结构精修起步3.1 精修前的准备工作3.1.1 衍射数据的测定3.1.2 衍射数据的转换3.1.3 初始结构的获取3.2 EXPGUI精修简单示例3.2.1 生成EXP文件3.2.2 精修过程3.2.3 常见问题3.3 精修结果提取与绘图3.3.1 精修结果提取3.3.2 精修图谱绘图
第4章 EXPGUI-GSAS提高练习4.1 仪器参数文件的建立4.1.1 基本知识4.1.2 操作过程4.2 物相（含非晶）定量分析4.2.1 基本原理4.2.2 衍射数据测试4.2.3 精修过程4.3 Le Bail法拟合以及约束的使用4.3.1 问题描述4.3.2 精修过程
参考文献
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