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公差配合与技术测量

公差配合与技术测量

作者:吴爽
出版社:中国地质大学出版社出版时间:2012-12-01
开本: 16开 页数: 230
本类榜单:工业技术销量榜
中 图 价:¥18.6(5.5折) 定价  ¥33.8 登录后可看到会员价
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公差配合与技术测量 版权信息

  • ISBN:9787562529996
  • 条形码:9787562529996 ; 978-7-5625-2999-6
  • 装帧:暂无
  • 册数:暂无
  • 重量:暂无
  • 所属分类:>

公差配合与技术测量 内容简介

本书共12个模块。模块1至模块5介绍了尺寸的公差与配合及测量技术的基础知识,包括公差配合课程概述、尺寸公差及检测、技术测量基础、形状和位置公差及检测、表面粗糙度及检测等内容;模块6至模块11介绍了普通螺纹公差及检测,滚动轴承公差配合,平键、花键联接的公差及检测,圆锥的公差与检测,尺寸链,渐开线圆柱齿轮的公差及测量;模块12介绍了综合检测实训。

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