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一般工业技术

粉末衍射理论与实践

作者：(法)丁尼拜(R.E.Dinnebier

出版社：高等教育出版社出版时间：2016-09-01

开本： 32开 页数： 593

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粉末衍射理论与实践版权信息

ISBN：9787040449709
条形码：9787040449709 ; 978-7-04-044970-9
装帧：暂无
册数：暂无
重量：暂无
所属分类：
工业技术
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一般工业技术

粉末衍射理论与实践本书特色

由德国丁尼拜和美国比林格共同主编、陈昊鸿和雷芳共同翻译的这本书《粉末衍射理论与实践（精）／材料科学经典著作选译》首先介绍了粉末衍射原理，然后分别详细介绍了仪器设置、数据收集、线形分析、定性与定量物相分析、结构解析和精修、非周期性结构处理、应变或应力分析、非常夫条件测试、微结构及其效应分析等技术和实践过程，*后给出了可选用的软件以及网络资源。

粉末衍射理论与实践内容简介

要介绍一门技术，*合适的老师莫过于那些享有国际声誉的专家，他们或是建立相关理论，或是提供了广泛使用的工具。而这正是本书的*大优势——主编和作者们就是这样的一群专家。他们不仅阐释了技术的概念和诀窍，而且讨论了有关结果合理性的问题。本书在技术的筛选上提倡“重在实用，与时俱进”的原则，在内容的安排上讲究“阶梯”和“引路人”的效果，适合不同层次的、想运用粉末衍射技术来解决实际问题的读者。

粉末衍射理论与实践目录

第1章粉末衍射原理 1.1 引言 1.2 基本原理 1.3 布拉格方程的推导 1.4 基于倒易点阵的布拉格方程 1.5 Ｅwald图 1.6 关于布拉格方程的导数 1.7 有限晶粒大小的布拉格定律参考书目第2章实验装置 2.1 引言 2.2 Ｘ射线辐射源 2.2.1 实验室犡射线源 2.2.2 同步犡射线源 2.3 Ｘ射线光学元件 2.3.1 滤光片 2.3.2 单色器 2.3.3 反射镜 2.4 Ｘ射线探测器 2.4.1 点探测器 2.4.2 线探测器 2.4.3 面探测器 2.4.4 探测器校准 2.5 实验室设备配置 2.5.1 反射几何 2.5.2 透射几何 2.6 同步辐射设备配置 2.6.1 前置于样品的光学元件 2.6.2 基于平行光束的设备 2.6.3 德拜-谢乐几何设备 2.7 测试 2.7.1 样品架 2.7.2 标准样品 2.7.3 数据收集 2.8 能量色散Ｘ射线粉末衍射 2.9 中子粉末衍射 2.9.1 中子的性质 2.9.2 中子源 2.9.3 中子的探测 2.9.4 单色化技术 2.9.5 飞行时间技术参考文献第3章布拉格衍射强度 3.1 引言 3.2 单原子散射理论 3.2.1 X射线散射 3.2.2 中子散射 3.3 晶体点阵的散射 3.3.1 热运动效应 3.3.2 洛伦兹因子 3.3.3 调制晶体点阵的散射 3.3.4 中子磁矩散射 3.4 多晶粉末的散射 3.4.1 Friedel衍射对的重叠 3.4.2 衍射多重性 3.4.3 织构效应 3.4.4 吸收效应致谢参考文献第4章常规数据还原 4.1 引言 4.2 伪衍射峰（异常值）的消除 4.3 背景的拟合与扣除 4.4 数据平滑 4.4.1 移动多项式平滑（犛犪狏犻狋狕犽狔犌狅犾犪狔法） 4.4.2 数字低通滤波 4.5 Ｋα2剥离 4.6 寻峰算法 4.6.1 爬山寻峰法 4.6.2 二阶导数寻峰法 4.6.3 预定峰形寻峰法 4.7 线形函数与线形拟合 4.8 系统误差的确定与校正 4.8.1 外标 4.8.2 内标 4.8.3 结合点阵常数精修的校正参考文献第5章提取强度的布拉格衍射线形分析 5.1 引言 5.2 谱峰线形函数贡献概述 5.3 仪器像差 5.3.1 *大尺寸效应研究成果 5.3.2 射线的蒙特卡罗循踪 5.4 样品宽化 5.4.1 晶粒尺寸 5.4.2 点阵应变 5.4.3 各向异性样品宽化：层错 5.5 单峰拟合与线形分析 5.5.1 面向强度或位置提取的峰形拟合———晶胞信息已知或未知 5.5.2 有关尺寸／畸形信息提取的单峰分析 5.5.3 更高层次地逼近 5.6 无结构的全粉末谱图分解（WPPD） 5.6.1 无晶胞限制 5.6.2 受限于晶胞的全粉末谱图分解 5.6.3 WPPD的主流应用 5.7 结论参考文献第6章 X射线粉末衍射中有关线形的仪器因素———基于Bragg-Brentano几何的衍射仪 …… 第7章指标化和空间群识别第8章晶体结构解析第9章 Rietveld精修第10章差值导数*小化法第11章定量物相分析第12章微结构性质：织构和宏观应力效应第13章微结构性质：点阵缺陷和晶畴尺寸效应第14章使用面探测器的二维衍射第15章非常规条件下的粉末衍射第16章基于全散射和原子对分布函数（PDF）的局域结构分析第17章粉末衍射计算机软件索引

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